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产品名称: ZEISS METROTOM 1
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ZEISS METROTOM 1

产品介绍: ZEISS METROTOM 1的CT技术便捷,用户仅需一次扫描即可有效完成复杂的测量与检测任务,从而对接触式和光学测量系统无法检测到的隐蔽的缺陷与内部结构进行测量、分析及检测。 ZEISS METROTOM 1 优势1、看到很小的细节得益于高解析度的6MP平板探测器得益于高分辨率的6MP平板…

ZEISS METROTOM 1CT技术便捷,用户仅需一次扫描即可有效完成复杂的测量与检测任务,从而对接触式和光学测量系统无法检测到的隐蔽的缺陷与内部结构进行测量、分析及检测。

 

ZEISS METROTOM 1 优势

1、看到很小的细节

得益于高解析度的6MP平板探测器

得益于高分辨率的6MP平板探测器 以高分辨率显现甚至很小的细节。 直径为150mm的物体可以以65 µm体素大 小进行重建。

2、减少维护

封闭式微焦点X光管

封闭式微焦点X光管 在封闭的发射管内,在制造过程中产生的真空会持续到X光管的整个使用寿命,因此不需要维护。

3、灵巧设计

小巧灵活

小巧灵活 总空间需求小于1.6平方米,因此可以非常灵活地放置。不必为系统后面,上方和右侧的服务提供额外的空间。

4、检测中小型零件

高度或直径达165mm以内的塑料组件皆可以轻松进行扫描和测量。。

5、操作便捷

轻触一个按钮即可进行扫描和分析

CT的简化设置使得操作非常简单,而操作员的影响却很小。 这几乎没有差错的余地,因此对操作人员的培训也很少。

6、由GOM Volume Inspect支持的强大解決方案

配备的GOM Volume Inspect软件具备创新的3D体积渲染和所有剖面的3D可视化。借助GOM Volume Inspect,您可洞悉部件内部,分析几何形状、孔隙或内部结构以及装配情况。直观操作、高性能:CT数据分析从未如此简单!

 

ZEISS METROTOM 1 应用

对于中小型塑料零件与小型轻金属零件,可以实现缺陷检验、尺寸误差彩图比对与全尺寸量测。

 

METROTOM全系列

 

 

 

 


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