蔡司三坐标ZEISS CONTURA包含各种测头，因此可为各种应用和要求提供合适的测头或测头系统。利用MASS技术，可以高精度操作大量的蔡司测头并在同一测量仪器上快速更换：无论是光学或接触式，被动或主动式——这便是蔡司三坐标ZEISS CONTURA如何实现更大的灵活性。

　　这种多测头系统配备创新的光学测头，可执行多种测量作业，包括检测塑料、医用植入物以及电池和柔性细销等电机部件。

　　光学式测头

　　该系统配备创新的ZEISS DotScan色阶共聚焦白光测头(也是CONTURA系列的一项新功能)，甚至可以测量透明的厚涂层。

　　此外， 成熟的VAST扫描技术可以在三坐标测量机上实现多种不同的形状和位置公差选项。这样，操作人员就无需在专门的系统上进行耗时的形状测量，从而降低了检测成本，缩短了交货时间。而且，该系统现在还可以测量粗糙度，其按照同一测量序列的标准，将粗糙度测量功能完整地集成在三坐标测量机上，从而为手动测量粗糙度提供了高精度的替代方法。蔡司通过这种方式开创了中距离三坐标测量技术的未来，并将其提升到全新的高度。

　　蔡司三坐标ZEISS CONTURA可以降低测量时间的同时保持可靠的精度。蔡司VAST navigator或蔡司VAST performance等功能与蔡司VAST测头配合使用可确保这一点。飞行模式(Fly Mode)是该系列的另一项新功能。它使测头能够在从A到B的有效路径上运行，从而缩短测量时间并保护机械部件。

　　符合人体工程学

　　小型测量室需要一个测量设备，以适应可用空间。CMM的优化高度和宽度，以及经过深思熟虑设计的人体工程学的特殊功能，可以让用户舒适地操作。

有了HTG选项(宽温度带)，更大的温度范围对蔡司CONTURA来说都不是挑战。由于采用了浮动玻璃陶瓷量程，新型蔡司CONTURA可承受热变化——因此可确保温度稳定性和恒定的测量精度。

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